咨詢熱線
400 025 1686
400 025 1686
追求合作共贏
Win win for you and me售前售中售后完整的服務(wù)體系
誠(chéng)信經(jīng)營(yíng)質(zhì)量保障價(jià)格實(shí)惠服務(wù)完善
當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品展示 > 物理特性分析儀器 > 膜厚儀 > XTU-4C涂鍍層厚度分析儀
簡(jiǎn)要描述：涂鍍層厚度分析儀：微聚焦加強(qiáng)型X射線裝置：可測(cè)試各類(lèi)極微小的樣品，即使檢測(cè)面積為0.002mm2的樣品也可輕松，精準(zhǔn)檢測(cè)。變焦裝置及位置補(bǔ)償算法：可對(duì)各種異形凹槽件進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-30mm.自主研發(fā)的EFP算法：多層元素，各種元素及有機(jī)物，甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測(cè)量。
產(chǎn)品型號(hào)：XTU-4C廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2025-05-28訪 問(wèn) 量：247相關(guān)文章
Related Articles詳細(xì)介紹
| 品牌 | 福佰特 | 價(jià)格區(qū)間 | 5萬(wàn)-10萬(wàn) |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車(chē)及零部件,綜合 |
涂鍍層厚度測(cè)試儀：全面升級(jí)下照式探測(cè)器，多模態(tài)人機(jī)交互，搭載先進(jìn)的EFP算法軟件同時(shí)升級(jí)成新一代微納米芯片元器件，在檢測(cè)多層合金，上下元素重復(fù)鍍層及滲層時(shí)更加精準(zhǔn)，穩(wěn)定。
微聚焦加強(qiáng)型X射線裝置：可測(cè)試各類(lèi)極微小的樣品，即使檢測(cè)面積為0.002mm2的樣品也可輕松，精準(zhǔn)檢測(cè)。
變焦裝置及位置補(bǔ)償算法：可對(duì)各種異形凹槽件進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-30mm.
自主研發(fā)的EFP算法：多層元素，各種元素及有機(jī)物，甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測(cè)量。
微米級(jí)移動(dòng)精度：高精密XY移動(dòng)滑軌，實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)位，多樣品的精準(zhǔn)位移和同時(shí)檢測(cè)，移動(dòng)精度可達(dá)微米級(jí)，輕松應(yīng)對(duì)極微小樣品檢測(cè)。
匠心打造的新一代設(shè)計(jì)，是一款具科技感的一機(jī)多用型光譜儀，采用先進(jìn)的EFP算法和微光聚集技術(shù)的同時(shí)搭配新一代的多道及時(shí)序排列，專精型既保留了專用測(cè)厚儀檢測(cè)微小樣品和凹槽的性能，又可滿足微區(qū)ROHS檢測(cè)及全元素分析，每一個(gè)功能都是專業(yè)的。
微聚焦X射線發(fā)生器和先進(jìn)的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)，最小測(cè)量面積大0.03m2,可變焦裝置及位置補(bǔ)償算法：可對(duì)各種異形凹槽件進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)。凹槽深度范圍0-30mm。自主研發(fā)的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂鍍層。多層多元素，甚至有同種元素在不同層可以精確測(cè)量。
一機(jī)多用，精檢精測(cè)：各裝置高度集成，不分散，不弱化光強(qiáng)，能夠兼顧ROHS,全元素分析，各種大小異形涂鍍層樣品的快速精準(zhǔn)檢測(cè)。
有任何問(wèn)題都可以隨時(shí)聯(lián)系，24小時(shí)在線。
產(chǎn)品咨詢
